2026-04-09
高電圧(HV)試験では、放電中に発生する過渡電磁界は非常に強力です。メーカーや試験機関にとって、高い電磁干渉(EMI)は波形歪みやデータ不正確さにつながります。解決策は、ループインダクタンスの制御とデジタル測定システムのEMI耐性の向上にあります。
干渉源と不正確さの根本原因の特定
インパルス試験では、極端なdU/dtおよびdI/dtレートが伴います。SXCYシリーズが最大7200 kVの電圧レベルで動作する場合、空間結合と接地電位上昇が主な懸念事項となります。不十分なシールドは高周波振動を引き起こし、IEC 60060の要件を超えるピーク電圧誤差につながります。
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SXCYインパルス発生器シリーズ:ハードウェアパラメータによる干渉抑制
EMI耐性を向上させるためのデジタル測定システムの最適化
結論:高繰り返し精度試験基準の達成
欧州のグリッド研究所にとって、≥90%の効率と低い同期誤差を備えた機器の選択は不可欠です。SXCYシリーズのハードウェアの一貫性と光絶縁を組み合わせることで、研究所は測定の不確かさを最小限に抑え、第三者認証のための信頼できる生データを提供できます。