2026-04-09
Bij hoogspannings (HV) testen zijn de transiënte elektromagnetische velden die tijdens ontladingen worden gegenereerd extreem intens. Voor fabrikanten en testlaboratoria leidt hoge elektromagnetische interferentie (EMI) tot golfvormvervorming en onnauwkeurigheden in de gegevens. De oplossing ligt in het beheersen van de lusinductie en het verbeteren van de EMI-immuniteit van digitale meetsystemen.
Identificatie van Interferentiebronnen en Oorzaken van Onnauwkeurigheid
Impulstesten omvatten extreme dU/dt en dI/dt snelheden. Wanneer de SXCY-serie werkt op spanningsniveaus tot 7200 kV, zijn ruimtelijke koppeling en aardpotentiaalstijging primaire aandachtspunten. Onvoldoende afscherming veroorzaakt hoogfrequente oscillaties, wat leidt tot piekspanningsfouten die de vereisten van IEC 60060 overschrijden.
![]()
SXCY Impulsgenerator Serie: Interferentieonderdrukking via Hardwareparameters
Optimalisatie van Digitale Meetsystemen voor Verbeterde EMI-Immuniteit
Conclusie: Het Bereiken van Hoge Herhaalbaarheids Testnormen
Voor Europese netwerkinstituten is de selectie van apparatuur met ≥90% efficiëntie en een lage synchronisatiefout fundamenteel. Door de hardwareconsistentie van de SXCY-serie te combineren met optische isolatie, kunnen laboratoria de meetonzekerheid minimaliseren en geloofwaardige ruwe gegevens leveren voor certificeringen door derden.